Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο: https://hdl.handle.net/20.500.14279/4349
Τίτλος: Suppression of intermixing in strain-relaxed epitaxial layers
Συγγραφείς: Leontiou, Theodoros 
Tersoff, Jerry 
Kelires, Pantelis C. 
Major Field of Science: Engineering and Technology
Λέξεις-κλειδιά: Computer simulation;Continuum mechanics;Germanium;Indium arsenide;Gallium alloys
Ημερομηνία Έκδοσης: 3-Δεκ-2010
Πηγή: Physical Review Letters, 2010, vol. 105, no. 23
Volume: 105
Issue: 23
Περιοδικό: Physical Review Letters 
Περίληψη: Misfit strain plays a crucial role in semiconductor heteroepitaxy, driving alloy intermixing or the introduction of dislocations. Here we predict a strong coupling between these two modes of strain relaxation, with unexpected consequences. Specifically, strain relaxation by dislocations can suppress intermixing between the heterolayer and the substrate. Monte Carlo simulations and continuum modeling show that the suppression, though not absolute, can be surprisingly large, even at high temperatures. The effect is strongest for a large misfit (e.g., InAs on GaAs) or for thin substrates (e.g., Ge on silicon on insulator).
URI: https://hdl.handle.net/20.500.14279/4349
ISSN: 10797114
DOI: 10.1103/PhysRevLett.105.236104
Rights: © The American Physical Society
Type: Article
Affiliation: Cyprus University of Technology 
T.J. Watson Research Center 
Publication Type: Peer Reviewed
Εμφανίζεται στις συλλογές:Άρθρα/Articles

CORE Recommender
Δείξε την πλήρη περιγραφή του τεκμηρίου

SCOPUSTM   
Citations

10
checked on 9 Νοε 2023

WEB OF SCIENCETM
Citations

10
Last Week
0
Last month
0
checked on 29 Οκτ 2023

Page view(s) 10

551
Last Week
0
Last month
5
checked on 22 Δεκ 2024

Google ScholarTM

Check

Altmetric


Όλα τα τεκμήρια του δικτυακού τόπου προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα