MEMC Electronic Materials

View Statistics Email Alert RSS Feed

Organization name

Αποτελέσματα για 1-1 από 1.

Refman EndNote Bibtex RefWorks Send via email

		Ημερομηνία Έκδοσης	Τίτλος	Συγγραφέας	Journal
	1	3-Νοε-2008	Influence of thermal processing on the electrical characteristics of MOS capacitors on strained-silicon substrates	Kelaidis, N. ; Ioannou-Sougleridis, Vassilios ; Tsamis, Christos ; Krontiras, Christoforos A. ; Georga, Stavroula N. ; Kellerman, Bruce K. ; Seacrist, Mike R. ; Skarlatos, Dimitrios	Thin Solid Films