Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/20.500.14279/15385
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorΧούλης, Στέλιος-
dc.contributor.authorΤτοφή, Δημήτρης-
dc.date.accessioned2019-09-24T10:50:46Z-
dc.date.available2019-09-24T10:50:46Z-
dc.date.issued2019-05-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14279/15385-
dc.description.abstractΜέσα από την προσπάθεια μείωσης του κόστους των συσκευών OLED, αναγκαία ήταν η μελέτη πιθανών λύσεων για την επίτευξη του στόχου αυτού. Για το λόγο αυτό έγινε μια προσπάθεια για μελέτη αντικατάστασης ενός από τα πιο ακριβά υλικά της συσκευής, του ITO (Indium Tin Oxide). Μέσα από τη μελέτη αρκετών ερευνών που έχουν δημοσιευτεί, η αντικατάσταση του υλικού αυτού γίνεται ενδιαφέρον μέσα από λεπτά πλέγματα μετάλλων όπως Χαλκό, Άργυρο ή Χρυσό. Έτσι στη μελέτη αυτή έγινε σύγκριση συσκευών με κανονική δομή, οι οποίες αποτελούνταν από την συσκευή αναφοράς με ITO/AI4083 και τις συσκευές ITO-FREE με Cu grid/PH500 και Ag grid/PH500. Επομένως, για τη σύγκριση της συμπεριφοράς των συσκευών ITO-FRE, χρησιμοποιήθηκαν τα ίδια υλικά και οι ίδιες συνθήκες εναπόθεσης, αλλάζοντας μόνο το μέταλλο του πλέγματος. Μέσα από τη διεξαγωγή των πειραμάτων, έγινε χαρακτηρισμός LIV των πιο πάνω συσκευών, όπου σημαντικές ήταν οι τιμές της απόδοσης έντασης(current efficiency) στα 6.6V, όπου για τη συσκευή ITO ήταν 1.75 Lum/W, ενώ για τη συσκευή Ag grid ήταν 0.91 Lum/W. Τέλος για τη πλήρης ανάλυση και σχολιασμό των συσκευών, πραγματοποιήθηκε πείραμα για το χαρακτηρισμό του χρόνου ημιζωής των συσκευών, όπου μελετήθηκε η συμπεριφορά των μηχανισμών υποβάθμισης. Μέσα από το πείραμα αυτό, αναλύθηκε η συμπεριφορά των συσκευών κάτω από σταθερή πυκνότητα έντασης (100 mA/cm2 ), με αρκετά ενδιαφέρουσες συμπεριφορές των συσκευών ITO-FREE. Συγκεκριμένα ο χρόνος ημιζωής για τη συσκευή Cu grid ήταν 43.75 λεπτά, συσκευή Ag grid 337.15 λεπτά και για τη συσκευή αναφοράς ITO 4500 λεπτά.en_US
dc.formatpdfen_US
dc.language.isoelen_US
dc.publisherΤμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών και Επιστήμης και Μηχανικών Υλικών, Σχολή Μηχανικής και Τεχνολογίας, Τεχνολογικό Πανεπιστήμιο Κύπρουen_US
dc.rightsΑπαγορεύεται η δημοσίευση ή αναπαραγωγή, ηλεκτρονική ή άλλη χωρίς τη γραπτή συγκατάθεση του δημιουργού και κάτοχου των πνευματικών δικαιωμάτων.en_US
dc.subjectOLEDen_US
dc.subjectIndium Tin Oxideen_US
dc.subjectreduce the cost of OLEDen_US
dc.titleΑπόδοση και Χρόνος Ζωής Οργανικών Διόδων Εκπομπής Φωτός με Χρήση Εκτυπωμένων Ηλεκτροδίωνen_US
dc.typeBachelors Thesisen_US
dc.affiliationCyprus University of Technologyen_US
dc.relation.deptDepartment of Mechanical Engineering and Materials Science and Engineeringen_US
dc.description.statusCompleteden_US
cut.common.academicyear2018-2019en_US
dc.relation.facultyFaculty of Engineering and Technologyen_US
item.fulltextWith Fulltext-
item.cerifentitytypePublications-
item.grantfulltextopen-
item.openairecristypehttp://purl.org/coar/resource_type/c_46ec-
item.openairetypebachelorThesis-
item.languageiso639-1el-
crisitem.author.deptDepartment of Mechanical Engineering and Materials Science and Engineering-
crisitem.author.facultyFaculty of Engineering and Technology-
crisitem.author.orcid0000-0002-7899-6296-
crisitem.author.parentorgFaculty of Engineering and Technology-
Appears in Collections:Πτυχιακές Εργασίες/ Bachelor's Degree Theses
Files in This Item:
File Description SizeFormat
ΠΕΡΙΛΗΨΗ.pdfAbstract87.72 kBAdobe PDFView/Open
CORE Recommender
Show simple item record

Page view(s) 20

174
Last Week
1
Last month
2
checked on May 12, 2024

Download(s) 20

34
checked on May 12, 2024

Google ScholarTM

Check


Items in KTISIS are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.