Refined By:
Ημερομηνία Έκδοσης:  [2010 TO 2019]
Τύπος:  Article
Ημερομηνία Έκδοσης:  2012

Αποτελέσματα για 1-1 από 1.

Ημερομηνία ΈκδοσηςΤίτλοςΣυγγραφέας
13-Μαΐ-2012Intrinsic Stress in ZrN Thin Films: Evaluation of Grain Boundary Contribution From in Situ Wafer Curvature and Ex Situ x-ray Diffraction TechniquesAbadias, Gregory ; Koutsokeras, Loukas E.